隨著半導(dao)體元(yuan)器件(jian)行業的發(fa)展，各種電子元(yuan)器件(jian)在(zai)(zai)各種復雜環境(jing)(jing)下的性能測(ce)試顯得突(tu)出，溫度控(kong)制系統作為一種專門用(yong)(yong)于模擬和測(ce)試電子元(yuan)器件(jian)在(zai)(zai)各種環境(jing)(jing)下的性能的設備，其(qi)應用(yong)(yong)范圍正日益擴大。

　　新(xin)芝(zhi)阿弗斯的(de)高低溫(wen)控溫(wen)系(xi)統(tong)可以有效地檢測電(dian)子元器件(jian)的(de)耐(nai)高溫(wen)性(xing)(xing)能、穩(wen)定性(xing)(xing)和(he)可靠性(xing)(xing)等(deng)方面的(de)問題。致力于解(jie)決(jue)電(dian)子元器件(jian)中溫(wen)度控制滯后的(de)問題。為各種制程工藝提(ti)供(gong)了準確的(de)溫(wen)度控制環境，促進(jin)了材料(liao)的(de)化學反應和(he)物理(li)變(bian)化，從而(er)提(ti)高了產品(pin)的(de)質量和(he)性(xing)(xing)能。